高分子液晶态的表征

表征方法及原理
（1）偏光显微镜（PLM）表征液晶态及织构特点。
　　利用普通偏光显微镜，可以测定溶致高分子液晶的临界浓度（当高分子浓溶液超过此浓度后，即出现液晶相。）。方法是将不同浓度的高分子浓溶液，以薄层形式置于偏光显微镜载物台上观测，出现双折射时（物镜看到图像时）高分子容易浓度，即是该高分子溶液出现液晶相的临界浓度；用带有控温加热台的偏光显微镜，在观测中变化加热台的温度，可以测定热致液晶高分子熔体的液晶化温度（即逐步对被测样品升温，当高分子熔融，至物镜出现液晶图像时，样品的温度即为该高分子熔体的液晶化温度。）；用锥光系统偏光显微镜可以观测高分子液晶态的干涉图像，由干涉图的形状可以确定液晶态的光轴数及光性的正负；用偏光显微镜可观测到不同高分子液晶所具有的不同织构图像，由液晶的织构图象可以定性判断高分子液晶的类型。
　　（2）示差扫描量热（DSC）法测定热致高分子液晶的液晶化温度。
　　用DSC测定高聚物程序升温时的DSC曲线，，在熔点以上出现的吸热峰所对应的温度，即是该高分子的热致液晶化温度。