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还原炉中横梁的熔断现象

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发表于 2011-11-25 09:51:57 | 显示全部楼层 |阅读模式
本帖最后由 xingxing916 于 2011-11-25 11:54 编辑
出炉的产品中发现横梁处,像是烧化了,很可能是局部温度过高
至于为何局部温度高,坛友们可以一起探讨?
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发表于 2011-11-25 15:17:37 | 显示全部楼层
还原炉生产过程中,喷嘴口径不变,前期料量小,主要集中在硅芯中下部,所以前期对中下部生长有利,也有助于不倒棒。由于硅芯闭路中各部分电流相同,顶部气流小,散热慢且较细,电阻大,所以硅芯上部及横梁温度高,随着料量增加,喷嘴喷到顶部的料量逐渐增加,顶部由于温度高,生长快,突起多(玉米棒很严重),从整个硅棒闭路来看,横梁及硅棒上部电阻较大,越往后期硅棒上部得到的料量越多,生长突起也越严重,电阻相对中下部来说是增大的,电生热也多,导致硅棒上粗下细。
  横梁上暗下明,主要是横梁上部得不到其他硅棒的热量辐射,且后期料量大,带走的热量多,一般横梁上部温度较低,横梁下部温度高,出现熔芯,情况严重时横梁熔断。个人认为主要是后期温度控制的高,可以适当的降低电流。
仅供参考,欢迎拍砖,共同进步!
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发表于 2011-11-25 15:51:14 | 显示全部楼层
在硅芯启炉及硅棒运行过程中,存在径向温差,即硅芯或硅棒内部温度高,表面温度低。起炉时温度高,会导致硅芯弯。后期会导致硅棒表面正常,内部出现中空现象。
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 楼主| 发表于 2011-11-25 16:31:01 | 显示全部楼层
回复 3# 287789398
    楼上坛友说到的径向温差大,我觉得不是很合适的解释横梁熔断的现象
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发表于 2011-11-25 16:56:01 | 显示全部楼层
硅芯启炉及硅棒运行过程中,存在径向温差,即硅芯或硅棒内部温度高
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发表于 2011-11-26 12:45:36 | 显示全部楼层
回复 5# yangjiaocht
   是有径向温度差,但这只是导致硅棒出现裂纹的原因,而不是熔芯的原因。
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 楼主| 发表于 2011-11-26 14:27:54 | 显示全部楼层
回复  yangjiaocht
   是有径向温度差,但这只是导致硅棒出现裂纹的原因,而不是熔芯的原因。
隐身猪 发表于 2011-11-26 12:45

                                
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同意这个观点,个人认为径向温差不是引起熔芯的主要原因
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发表于 2011-11-26 12:45:00 | 显示全部楼层
个人认为硅芯熔是电器问题!根据,交流电的“趋肤效应”电流应该主要通过表面!
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发表于 2011-11-26 16:56:26 | 显示全部楼层
一般是横梁与竖硅芯接口搭的不是很好,局部电阻高,发热量大或拉弧烧融断掉。
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 楼主| 发表于 2011-11-27 20:38:51 | 显示全部楼层
9楼还有提到的接触不良也是有道理的
但是接触不良在刚开炉过程会发生熔芯
当硅棒长粗之后这种接触不良会被沉积的多晶硅所消除
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