xiafan86 发表于 2011-8-18 17:42:38

回复 10# zhouliya
    你懂个屁

68LONG 发表于 2011-9-17 01:41:49

楼上的何出此言，就是不懂或有搞不清楚之处，才在这里问嘛。你懂可以教教我们，谢谢先。

zirconium 发表于 2011-9-20 22:39:44

哪位知道ICP-MS（电感耦合等离子体质谱仪）与ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱仪）在三氯氢硅分析中的区别 ...
goonchong 发表于 2008-4-23 15:45

                              
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    质谱仪是痕量级的，光谱仪是微量级的

zirconium 发表于 2008-4-23 15:45:00

回复 7# cpz68868739
    我知道质谱仪可以检测PPb级的，PPt级的也可以检测吗？

zirconium 发表于 2011-9-20 22:42:21

回复 1# piaowu0335
   我想，首先得用适当的溶剂把多晶硅溶解，然后就可以用MS检测了

dingdaliang 发表于 2011-9-20 23:00:15

损害仪器主要是氯化氢 其具有腐蚀性
现建议如下方式：称一定质量的三氯氢硅 用氢氧化纳溶解 此时氯化氢已经不存在 或挥发或形成氯化钠 再取适量的反应后的氢氧化纳溶液 进行分析 安全无腐蚀
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