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多晶硅化验纯度ICP-AES法非光谱干扰的排除

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发表于 2009-3-13 09:47:29 | 显示全部楼层 |阅读模式
结合ICP-AES法在冶金,尤其是在钢铁分析中的应用,从试样预处理中溶解酸的选择,干扰物质的分离,痕量元素的富集,参比样品和分析样品的匹配,超声雾 化,分开气化进样系统的选择,以及最佳操作参数的选择等几个方面阐述了非光谱干扰的排除方法,提出了有利于钢中痕量杂质元素,痕量稀土元素分析的超声雾化,氢化物发生及色谱-ICP-AES联用技术的应用问题。
关键词 电感耦合等离子体发射光谱法 非光谱干扰
[ 本帖最后由 feiyue1980 于 2009-3-13 09:55 编辑 ]
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发表于 2009-3-13 09:50:38 | 显示全部楼层
这是个什么东东,怎么没有附件什么的“???
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 楼主| 发表于 2009-3-13 10:03:42 | 显示全部楼层
不好意思已经重新编辑好了
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